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溫度循環(huán)試驗 (高低溫循環(huán)試驗/Temperature Cycling)是將晶振暴露在高低溫交替的試驗環(huán)境下，測試元器件抗高低溫交替沖擊的能力。

試驗?zāi)M溫度交替變化對電子元器件的機械性能和電氣性能的影響《晶體諧振器電性能參數(shù)介紹》，及元器件在短期內(nèi)反復(fù)承受溫度變化的能力。同時，本試驗將暴露元器件制造問題，如： 芯片裂紋，密封性不強，接觸不良，材料熱脹冷縮等。

溫度循環(huán)試驗一般采用高低溫交變試驗箱，例如“慶聲KSON-KSK系列”。試驗箱可根據(jù)預(yù)設(shè)的曲線完成試驗?？蓞⒖嫉臏y試標(biāo)準(zhǔn)有： MIL-STD-810F，JESD22 Method JA- 104，GJB 360B.107等。

- 低溫：-40±5°C

- 高溫：125±5°C

- 循環(huán)：1000 cycles 

- 高低溫度保持時間最大時間30mins

- 高低溫切換時間最大1 min

- 實驗結(jié)束后24±2Hrs進行電性能測試

晶體諧振器頻率降低2.5ppm左右(5max)，諧振阻抗增大3Ω左右(5max)/±10%；晶體振蕩器頻率降低3ppm左右(5max)。

我們的質(zhì)量方針是精益求精、追求卓越、制造非凡、顧客滿意。產(chǎn)品質(zhì)量和技術(shù)追求行業(yè)最高水準(zhǔn)。公司追求精細化質(zhì)量管理，以滿足客戶對高端產(chǎn)品需求。